Ультракороткие лазерные импульсы измерили кривизну Берри в монослое WSe2

Учёные из Йенского университета и Университета Регенсбурга разработали оптический метод измерения кривизны Берри — квантово-геометрической характеристики электронов. Её измерили в монослое полупроводника диселенида вольфрама с помощью ультракоротких лазерных импульсов; результаты опубликованы в Nature Photonics.

• Метод определяет кривизну Берри с помощью света
• Измерения провели на монослое WSe2 толщиной в один атом
• Использованы ультракороткие лазерные импульсы
• Результаты опубликованы в журнале Nature Photonics