«Shift left» в фабриках чипов породил поток данных в сотни петабайт

Производители чипов переносят контроль дефектов внутрь технологических модулей, используя данные сенсоров оборудования и ИИ-модели. Рост числа параметров, частоты сэмплирования до десятков миллисекунд и объёмов до сотен петабайт в год усложняет управление данными и их контекстом.

• Частота сэмплирования выросла с ~1 раза в секунду до десятков миллисекунд
• Число параметров оборудования за несколько лет выросло на сотни
• Объёмы данных на некоторых фабриках достигают сотен петабайт в год
• Анализ внутри модуля требует обработки данных менее чем за секунду