Keysight, NPL и MPI создали метод характеризации суб-ТГц чипов до 250 ГГц

Keysight, Университет Глазго, NPL и MPI Corporation разработали метод непрерывной характеризации InP HEMT-транзисторов от почти DC до 250 ГГц за одно измерение. Подход объединяет измерительное оборудование Keysight, зондовую технику MPI и метрологию NPL, устраняя необходимость в нескольких установках и калибровках.

• Непрерывное измерение InP HEMT от почти DC до 250 ГГц за один проход
• Использованы Single-Sweep 250 GHz Frequency Extender и SMU от Keysight
• MPI предоставила широкополосное зондирование и ПО калибровки
• NPL отвечала за высокочастотную метрологию и методики калибровки